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網(wǎng)絡(luò)分析儀在校準(zhǔn)前有什么準(zhǔn)備工作么

2019-05-06 [1363]
   網(wǎng)絡(luò)分析儀在校準(zhǔn)前有什么準(zhǔn)備工作么

  這個(gè)是不一定需要的,盡量將每次校準(zhǔn)的state存 入VNA,名字為校準(zhǔn)狀態(tài),例如頻率范圍,輸入激勵(lì)功率等。如果有新的測(cè)試項(xiàng)目,但是它的測(cè)試條件和已有狀態(tài)相似,且load state后,檢查校準(zhǔn)狀態(tài)良好,就可用使用以前的校準(zhǔn)狀態(tài),而不需要重新校準(zhǔn)。將校準(zhǔn)state保存并調(diào)用的好處在于:Calibration Kit也是有使用壽命的,多次的校準(zhǔn),會(huì)是的校準(zhǔn)件多次和校準(zhǔn)電纜接觸,可能污染校準(zhǔn)件,使得校準(zhǔn)件特性發(fā)生改變,影響下一次校準(zhǔn)。盡量養(yǎng)成如下習(xí)慣:將 網(wǎng)絡(luò)分析儀的port不用的時(shí)候加上防塵套;對(duì)測(cè)試電纜進(jìn)行標(biāo)號(hào),使得VNA每個(gè)port盡可能固定連接某個(gè)電纜;對(duì)測(cè)試電纜不用時(shí),也需要加上防塵套; 盡量不用很臟的測(cè)試電纜等。

  以單端口DUT測(cè)量為例,測(cè)試模型參考o(jì)ne port error model。

  由 于VNA的輸出和DUT的待測(cè)輸入一般都存在中間過(guò)渡件/連接件,使得理想網(wǎng)絡(luò)分析儀的測(cè)試平面和DUT的待測(cè)平面間出現(xiàn)了一個(gè)誤差網(wǎng)絡(luò)。對(duì)于單端口誤差模型,有三個(gè)誤差項(xiàng)。為了求解三個(gè)誤差項(xiàng),由線性矩陣?yán)碚?,需要建立三個(gè)不相關(guān)的方程來(lái)求解。校準(zhǔn)的原理就是建立這三個(gè)方程。

  通過(guò)在測(cè)試面加入三個(gè)已知特性的校準(zhǔn)件,例如開(kāi)路件,反射系數(shù)理論上為1,短路件,反射系數(shù)理論上為-1,負(fù)載件反射系數(shù)理論上為0。通過(guò)VNA測(cè)量這三個(gè)校準(zhǔn)件,得到實(shí)際測(cè)量結(jié)果。也就得到包含三個(gè)誤差模型的線性方程,通過(guò)求解就能得到三個(gè)誤差項(xiàng)。在后續(xù)的測(cè)量中,在直接獲得的測(cè)試結(jié)果中,先通過(guò)數(shù)學(xué)運(yùn)算,消除三個(gè) 誤差項(xiàng)帶來(lái)的影響,顯示給用戶的就是校準(zhǔn)后DUT的特性。

  當(dāng)然兩端口誤差模型更加復(fù)雜,分為正向和反向,正向具有6個(gè)誤差項(xiàng),反向也有6個(gè)誤差項(xiàng),總共有12個(gè)誤差項(xiàng)需要求解,求解方法可用參考"RF Measurement of Die and Packages"

  當(dāng)然一般網(wǎng)絡(luò)分析儀提供的二端口矢量校準(zhǔn)方法為SOLT,通過(guò)單端口的分析,其實(shí)校準(zhǔn)件的本質(zhì)是建立誤差模型方程,選擇不同已知反射系數(shù)的校準(zhǔn)件,就得到了很多不同的校準(zhǔn)方法,例如LRM,LRRM,TRL等等。

  當(dāng)然校準(zhǔn)的本質(zhì)也是去嵌入(De-embedding)的過(guò)程,去嵌入的本質(zhì)得到誤差網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù),通過(guò)轉(zhuǎn)換到T參數(shù),運(yùn)用級(jí)聯(lián)運(yùn)算進(jìn)行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù),應(yīng)用也比校準(zhǔn)廣泛。